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中来严格选用高标准的封装材料

  核心提示:近日,中来光电随机送检N型双面组件在温度85℃、湿度85%、电压1500V的测试条件下顺利通过了TV南德3倍PID测试,测试结果非

  近日,中来光电随机送检N型双面组件在温度85℃、湿度85%、电压1500V的测试条件下顺利通过了TV南德3倍PID测试,测试结果非常优异。报告显示,全部样品衰减均低于1%,达到业内一流水平。

  PID全称“Potential Induced Degradation”,即“电势诱导衰减”。

  界近年来对这一现象高度的重视,原因是PID现象会导致组件产生严重的功率损失,开压和填充因子显著下降,组件EL变黑,甚至是完全变黑。PID的产生和组件封装材料、电池减反射膜的特性以及使用环境的温湿度密切相关。

  业内通用标准是在温度60C、相对湿度85%、电压1000V的环境下进行96个小时PID测试,组件功率衰减不超过5%即为合格,衰减在2%以内即为优秀标准。中来双面组件测试时间达到通用标准的3倍,测试温度比通用标准高出25C,组件衰减均不到1%,功率稳定性表现出众,证实了在高温、高湿环境下双面组件优异的可靠性。

  中来光电坚持生产高效N型双面电池和组件,帮助客户降低电站投资成本、提高发电收益。与此同时,中来严格选用高标准的封装材料,并通过电池新技术的研发,工艺质量控制的完善,为高效组件增加高品质保障。

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